(三月)楊展其教授與陳宜君教授團隊以X光疊印法研究鐵磁材料
在這項研究中楊展其與陳宜君老師團隊與瑞士光源(Swiss Light Souce)的Dr. Tim Butcher合作，透過軟X光疊印法(soft X-ray Ptychography)量測鐵酸鉍薄膜(BiFeO3)的自旋擺線(Spin Cycloid)。利用軟X光疊印法這項同調繞射成像法 (coherent diffractive imaging method) ，通過分別入射水平與鉛直方向的線偏振光，成功示範了在自支撐鐵酸鉍薄膜自旋擺線的量測。該技術能夠有效區分非共線反鐵磁軸排列與線性二向性的其他貢獻，將可為多鐵材料的研究提供重要的磁電耦合訊息，在材料科學和奈米技術領域將具有深遠的影響，並為探索新型功能材料的設計和應用奠定了堅實的基礎。
詳見 Advanced Material (2024)
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